Si8000m/Si9000e XFE Crosshatch Flex Enhancement
 zur Berechnung aufgerasterter, gitterförmiger Referenzlagen 

Berechnung von Leiterbahn-Impedanzen mit aufgerasterten Referenzlagen.

Hersteller von Flex- und Starrflex-Leiterplatten haben lange Zeit nach einer praktischen Methode zur Impedanzberechnung von Striplines und Microstrips mit aufgerasterten Referenzlagen gesucht. In Flex-Schaltungen werden als Signal-Retourpfad häufig aufgerasterte Referenzlagen anstelle von vollflächigen Kupferlagen wie bei starren Leiterplatten eingesetzt.  

Obwohl die Aufrasterung von Referenzlagen eine Reihe von Nachteilen wie z.B. Verlängerung des Signal-Retourpfades mit sich bringt, hat sich diese Technik in der Industrie etabliert. Vielfach ist die Aufrasterung die einzige Lösung, um die zur Erzielung eines bestimmten Impedanzwertes erforderliche Leiterbreite in einen fertigbaren Bereich zu bringen. Die üblicherweise in Flex-Aufbauten verwendeten Polyimid-Lagen weisen nur eine sehr geringe Schichtdicke auf, was bei speziellen Impedanzvorgaben zu sehr geringen Leiterbreiten und den damit verbundenen höheren Kosten führt. Die Aufrasterung dient auch zur Verbesserung der Biegefähigkeit im Flex-Bereich.  

Die Aufrasterung wird in Sonderfällen auch bei Starr-Leiterplatten eingesetzt, um größere Leiterbreiten zu erlauben - zum Beispiel bei Interposer-Boards. 

XFE — Crosshatch Flex Enhancement

Polar Instruments hat nun eine Methode entwickelt, welche auf Polar´s bewährter 2D Field Solver Technologie aufsetzt und mittels eines speziellen XFE-Korrekturalgorithmus die aufgerasterten Referenzlagen in die Modellierung der gebräuchlichsten Flex-Impedanzstrukturen einbezieht. 
 



Si8000m/Si9000e XFE Konfiguration

Dieser Lösungsansatz überwindet die Limitierungen eines herkömmlichen Field Solvers und erlaubt die Modellierung einer Vielzahl von Raster-Geometrien. Die neue XFE-Option ist für Polar´s Si8000m und Si9000e Field Solver verfügbar und ermöglicht die Einstellung von Raster-Abstand (HP) und Raster-Breite (HW) wie im Bild unten gezeigt.
 



Einstellung von Raster-Abstand und Raster-Breite
 
Raster-Abstand und Raster-Breite können direkt oder auch als prozentuelle Kupferbelegung eingegeben werden. Stellen Sie den Raster-Abstand mit dem Schieberegler ein und sehen Sie sofort die Änderung in der prozentuellen  Kupferbelegung. Ist die Kupferbelegung bereits bekannt, so wählen Sie den Prozentwert über die vordefinierten Schaltflächen- die Rasterbreite wird dann bei gegebenem Raster-Abstand sofort automatisch berechnet.

Die Vorteile zusammengefasst:

XFE reduziert die Prototypen-Entwicklungszeit für impedanzdefinierte Flex- und Starrflex-Leiterplatten. 
XFE ermöglicht die Modellierung von impedanzdefinierten Leitungen mit aufgerasterten, gitterförmigen Referenzlagen.
XFE basiert auf der bewährten Polar Boundary Element 2D Field Solver Technologie.
XFE ist als Option zur Si8000m und Si9000e für alle verlustlosen Übertragungsleitungen verfügbar.
XFE kann auch für Starr-Leiterplatten mit aufgerasterten Referenzlagen eingesetzt werden (z.B. Interposer)

Polar´s XFE-Technologie bietet Entwicklern und Leiterplattenhersteller erstmals die Möglichkeit, Impedanzen auf Flex- und Starrflex-Leiterplatten zu simulieren und hilft somit die Anzahl der erforderlichen Prototypen zu reduzieren.

 
Für weitere Fragen zur neuen XFE Option für Si8000m und Si9000e kontaktieren Sie uns unter germany@polarinstruments.com oder Tel. +43 7666 20041-0